掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
掃描電鏡是用極細的電子束在樣品表面掃描，將產生的二次電子用特制的探測器收集，形成電信號運送到顯像管，在熒光屏上顯示物體。（細胞、組織）表面的立體構像，可攝制成照片。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可臺式掃描電鏡的sim探測器，觀察微觀區域精細表面形貌，同時可選配bse和eds，表征微區成分信息，可擴展低真空觀察模式，非導電樣品直接用bse探測器觀察，免制備導電膜層,使用當前最先進的電子光學設計，自動控制技術，二次電子分辨率達到7nm @20kv，是目前臺式掃描電鏡的最高水平。 q -6154
更新時間:2025-06-05
jsm-7001f熱場發射掃描電子顯微鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。 q -6154
更新時間:2025-06-05
掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率高達3萬倍，采用背散射電子探測器（固態型）非導電性樣品，不經過前處理即可直接觀察分析-標準模式-充電式還原模式樣品交換1分鐘內即可獲取圖像-高，低真空系統提供背散射電子圖像含水分樣品可選配冷卻載臺不經過前處理實時觀察分析。q -6154
更新時間:2025-06-05
深圳市瑞盛科技是韓國賽可公司在中國區域的戰略合作伙伴，一起致力于廣大中小企業分析檢測的專業設備提供商,賽可公司研發生產的迷你掃描電鏡實現了大電鏡的小型化處理，結構緊湊操作便捷。 q -6154
更新時間:2025-06-05
韓國進口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測器 、加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高 、非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高，立體感強，分辨率高 、支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可臺式掃描電鏡載物臺5軸控制系統（傾斜功能x,y(40mm), r(360˚), tilt(45˚), z(0~35mm)，支持自動化功能（自動對焦,自動調整對比度和亮度,調整電子束尺寸,消像散） 鼠標操控，操作便捷，可存儲多種形式圖片，測量分析方式多樣。 q -6154
更新時間:2025-06-05
jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統合于一體。結構緊湊的eds由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽可sne-3000mb最大放大倍率高達3萬倍,采用背散射電子探測器,非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內即可獲取圖像，提供背散射電子圖像。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子jsm-6510分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（eds），統合于一體。結構緊湊的eds由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。 q -6154
更新時間:2025-06-05
最大放大倍率高達3萬倍，采用背散射電子探測器(solid state type)，非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析，樣品交換1分鐘內即可獲取圖像， high & low vacuum system，提供背散射電子圖像，含水分樣品可選配冷卻載臺不經過前處理實時觀察分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
掃描電子顯微鏡jsm-6510采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍,預安裝的標準菜單中凝集了日本電子的專業知識和經驗，可以安裝低溫冷凍系統、冷凍樣品臺等豐富的選配件，還可選配eds進行元素分析。q -6154即使是sem新手也能設定適合每個樣品的條件。
更新時間:2025-06-05
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設計的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環境需求，jsm-6010的操作設計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設備。 q -6154
更新時間:2025-06-05
臺式掃描電鏡sne-4500m最大放大倍率10萬倍，圖像景深高，立體感強，分辨率高，載物臺5軸控制系統（傾斜功能）, 支持自動化功能（自動對焦,自動調整對比度和亮度,調整電子束 尺寸,消像散），鼠標操控，操作便捷，可存儲多種形式圖片，測量分析方式多樣，可選配eds，bse，馬達操控載物臺等多種配件。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍。q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子通用型掃描電子顯微鏡jsm-6510系列，采用了熱電子槍，內有標準菜單能滿足用戶的多樣化需求，豐富的選配件如cryo系統等能進一步擴大應用范圍，可以安裝低溫冷凍系統、冷凍樣品臺等豐富的選配件。 q -6154
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調節放大倍數，直觀的操作界面的設計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-06-05
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