表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
ft-303b型表面電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-06-05
四探針測試儀品牌@市場快訊采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表。
更新時間:2025-06-05
ft-336型四探針電阻率測試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-06-05
智能炭塊電阻率測定儀，采用步進定位90度或120度旋轉(zhuǎn)測量系統(tǒng),壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數(shù)據(jù),可編輯報表生成,自動分析均值,偏差值等數(shù)據(jù). 一體化設(shè)計結(jié)構(gòu).人性化模塊操作界面.
更新時間:2025-06-05
四點探針測試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國a.s.t.m 標準。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測試平臺參照gbt308
更新時間:2025-06-05
參照標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 no.1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；
更新時間:2025-06-05
功能描述：采用液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理參考國標單晶硅物理測試方法及 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
適用于測量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-06-05
適用于半導(dǎo)體材料企業(yè)、科研、高等院校及實驗室分析半導(dǎo)體材料縱向電阻率；可測量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率，試樣長度與截面尺寸之比應(yīng)不小于3:1
更新時間:2025-06-05
ft-351a高溫固體四探針電阻率測試儀 ，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與pc軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析。
更新時間:2025-06-05
ft-400ahxm-qj487化學(xué)轉(zhuǎn)化膜表面電阻測試儀功能介紹function introduction 采用四端測量法,配置測量平臺。液晶顯示，溫度補償功能，電阻率單位自動選擇。數(shù)顯壓強，上下限及報警功能pc軟件實時數(shù)據(jù)和報表管理;中英文版本。
更新時間:2025-06-05
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時間:2025-06-05
糖粉粉末電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2025-06-05
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2025-06-05
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試
更新時間:2025-06-05
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現(xiàn)貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-06-05
瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
更新時間:2025-06-05
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2025-06-05
電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試儀的供應(yīng)商根據(jù)國標gb11017-89所規(guī)定的測試方法和技術(shù)要求制造，用來測試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產(chǎn)品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2025-06-05
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態(tài)，則此時測試出來的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
更新時間:2025-06-05
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
更新時間:2025-06-05
全量程四探針測試儀，四探針法，可測微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運行，自動數(shù)據(jù)測量和系數(shù)修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)；中文或英文語言版本；具有屏蔽功能；參考美國 a.s.t.m 標準。單晶硅物理測試方法
更新時間:2025-06-05
導(dǎo)體和絕緣材料電阻率測試儀，具有寬量程測試范圍，覆蓋從導(dǎo)體材料至絕緣材料測試的測量；pc軟件對數(shù)據(jù)處理和分析，直讀電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)，具有屏蔽保護功能，一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，配備低阻和高阻測量治具；232通訊端口，標準電阻校準儀器；提供中文或英文操作界面.
更新時間:2025-06-05
自動鋰電池片電導(dǎo)率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定； pc軟件界面操作，實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；
更新時間:2025-06-05
導(dǎo)電和抗靜電橡膠電阻率測試儀，含有炭黑或電離物質(zhì)的導(dǎo)電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)特殊制備的試樣在實驗室對其體積電阻率的測定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10ω.m的物質(zhì).
更新時間:2025-06-05
材料高溫電阻率測試系統(tǒng)，材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合溫度試驗箱結(jié)合高溫治具與pc軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析.
更新時間:2025-06-05
高絕緣電阻率測試儀，測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。高絕緣電阻率測試儀
更新時間:2025-06-05
電池片電導(dǎo)率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設(shè)定； pc軟件界面操作，實現(xiàn)壓強與電阻,電阻率，電導(dǎo)率關(guān)系圖譜；
更新時間:2025-06-05
四探針法粉末電導(dǎo)率測試儀，已知量的粉體，在液壓動力下壓縮體積至設(shè)定壓力值或壓強，在線測量粉體電阻、電阻率、電導(dǎo)率，并記錄數(shù)據(jù).解決粉體難壓片成型或壓片取出測量誤差.
更新時間:2025-06-05
高溫四探針電阻率測試儀功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：
更新時間:2025-06-05
四探針方阻電阻率測試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時間:2025-06-05
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測試儀適用范圍：適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-06-05
硅片高溫方阻測試儀 廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ito）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測試儀
更新時間:2025-06-05
浙江高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)廠家直銷 液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表； 浙江高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)廠家直銷
更新時間:2025-06-05
直流低電阻測試儀性能特點:5位led顯示，穩(wěn)定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時間:2025-06-05
智能粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時間:2025-06-05
四探針電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
寧波半導(dǎo)體電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準。
更新時間:2025-06-05
負極材料粉末電阻率測試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定；本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-06-05
導(dǎo)電材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-06-05
多功能材料電阻率測試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電阻率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時間:2025-06-05
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時間:2025-06-05
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-06-05
導(dǎo)體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-06-05
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-06-05
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時間:2025-06-05
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-06-05
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2025-06-05
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-06-05
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