比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet比表面測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet比表面儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet比表面積儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet比表面積測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)bet比表面積分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm1高性能全自動(dòng)超微孔bet比表面分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm1高性能全自動(dòng)超微孔比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能分子篩bet檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能分子篩bet及微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能bet比表面及微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能bet比表面積及微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能bet比表面積及超微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet比表面檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet比表面積檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet比表面積分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet比表面分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑和bet分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米材料bet及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米材料bet比表面及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000pm2高性能納米材料bet比表面積及孔徑分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求極高的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附分析儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)分析儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ph瓦斯吸附常數(shù)檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器，專門針對(duì)測(cè)試煤炭，儲(chǔ)氫材料的吸附解吸測(cè)試要求定制，可測(cè)試材料對(duì)瓦斯氣、氫氣等的總吸附量，吸附常數(shù)，尤其是解吸速度等參數(shù)，適用于煤層氣，儲(chǔ)氫材料吸附，瓦斯突出研究的科研單位和企業(yè)用戶。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積分析儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
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3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型全自動(dòng)靜態(tài)法比表面積檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型孔隙度測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
3h-2000ps2型孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.01m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)知名品牌，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)專利,技術(shù)國(guó)際領(lǐng)先。
更新時(shí)間:2025-06-13
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